[发明专利]离子化装置有效

专利信息
申请号: 200780009456.2 申请日: 2007-03-16
公开(公告)号: CN101405828A 公开(公告)日: 2009-04-08
发明(设计)人: 松浦惠树;高田义博;有井忠;大竹智士 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社;株式会社理学
主分类号: H01J49/14 分类号: H01J49/14;G01N27/62;G01N27/64;H01J49/06;H01J49/10
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 离子化装置(2),具备:具有用于将试样分子(A)离子化的离子化空间(2b)的离子化室(2a)、用于向离子化空间(2b)内的试样分子(A)施加电子轰击并将试样分子(A)离子化的灯丝(23a、23b)、以及用于向离子化空间(2b)内的试样分子(A)照射紫外光并将试样分子(A)离子化的放电管(29)。
搜索关键词: 离子化 装置
【主权项】:
1.一种离子化装置,其特征在于,具备:具有用于将试样分子离子化的离子化空间的离子化室、用于向所述离子化空间内的所述试样分子施加电子轰击并将该试样分子离子化的电子源、以及用于向所述离子空间内的所述试样分子照射指向性低于激光的紫外光并将该试样分子离子化的光放出单元。
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