[发明专利]光拾取装置无效
申请号: | 200780011072.4 | 申请日: | 2007-03-12 |
公开(公告)号: | CN101410896A | 公开(公告)日: | 2009-04-15 |
发明(设计)人: | 立山清乃 | 申请(专利权)人: | 柯尼卡美能达精密光学株式会社 |
主分类号: | G11B7/135 | 分类号: | G11B7/135;G11B7/125 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 李芳华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 为了提供实现物镜、耦合透镜、光检测器的通用化,并能够对不同的光信息记录媒体进行确切的信息记录/再现的光拾取装置,光拾取装置满足以下三个算式:(1)0.05≤|L1-L2|、(2)0.01≤m1-m2、(3)0≤|M1-M2|≤0.1,其中,L1:从第1光源到第1光信息记录媒体光源侧面的光程L1(mm);L2:从第2光源到第2光信息记录媒体光源侧面的光程L2(mm);m1:第1光信息记录媒体的信息记录或再现时,物镜的光学系统倍率;m2:第2光信息记录媒体的信息记录或再现时,物镜的光学系统倍率;M1:第1光信息记录媒体的信息记录或再现时,聚光光学系统的整个光学系统倍率;M2:第2光信息记录媒体的信息记录或再现时,聚光光学系统的整个光学系统倍率。 | ||
搜索关键词: | 拾取 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光拾取装置,备有:射出波长λ1(nm)光束的第1光源;射出波长λ2(nm)(λ1<λ2)光束的第2光源;包括耦合透镜及物镜的聚光光学系统;以及光检测器;其中,所述第1光源发出的光束,通过利用所述聚光光学系统而介由厚度t1的保护层聚光于第1光信息记录媒体的信息记录面,且来自所述信息记录面的反射光在穿过所述聚光光学系统之后被所述光检测器检出,从而能够进行信息的记录以及/或再现,同时,所述第2光源发出的光束,通过利用所述聚光光学系统而介由厚度t2(t1≤t2)的保护层聚光于第2光信息记录媒体的信息记录面,且来自所述信息记录面的反射光在穿过所述聚光光学系统之后被所述光检测器检出,从而能够进行信息的记录以及/或再现,光拾取装置的特征在于,满足以下式(1)、(2)、(3)0≤|L1-L2|≤0.5 (1)0.01≤m1-m2 (2)0≤|M1-M2|≤0.1 (3)其中,L1:从所述第1光源到所述第1光信息记录媒体光源侧面的光程长L1(mm),L2:从所述第2光源到所述第2光信息记录媒体光源侧面的光程长L2(mm),m1:所述第1光信息记录媒体的信息记录或再现时,所述物镜的光学系统倍率,m2:所述第2光信息记录媒体的信息记录或再现时,所述物镜的光学系统倍率,M1:所述第1光信息记录媒体的信息记录或再现时,所述聚光光学系统的整个光学系统倍率,M2:所述第2光信息记录媒体的信息记录或再现时,所述聚光光学系统的整个光学系统倍率。
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