[发明专利]利用显出光子雪崩效应的探针离子的诊断系统和方法无效
| 申请号： | 200780011503.7 | 申请日： | 2007-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN101410141A | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | J·F·苏伊吉维尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61K49/00 | 分类号： | A61K49/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王 英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明提供了用于显著增加例如光学活检的诊断过程的灵敏度和选择性的有利系统和方法。所公开的系统和方法使用高度非线性效应，所谓的光子雪崩。在接近雪崩阈值的方案中，在研究中的探针离子的密度或激发功率的小差别可以导致上转换发射强度的非常大的改变。通过该效应，可以仅仅精确地测量在离子浓度最高的位置处光学活检探针离子的信号，同时，显著地减少或消除了来自在整个测量体积上以稍低浓度分布的探针离子的背景信号的测量。同样，利用这种技术，基本上不存在周围健康组织的背景自发荧光。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 显出 光子 雪崩 效应 探针 离子 诊断 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于识别感兴趣区域或位置的方法，包括：a.提供显出雪崩上转换效应的一个或多个探针离子；b.将所述探针离子暴露于激励能量以启动雪崩上转换效应；以及c.基于至少部分与所述雪崩上转换效应相关的发射确定较高浓度所述探针离子的一个或多个区域。
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