[发明专利]测试信号发生装置无效

专利信息
申请号: 200780013805.8 申请日: 2007-03-06
公开(公告)号: CN101427144A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 和田健;土肥正彦 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01R31/3183 分类号: G01R31/3183
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 胡金珑
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供一种能够产生用于对动态地转移状态的被测试装置进行测试的测试信号的测试信号发生装置。本发明的测试信号发生装置包括:模式存储单元(20),存储多个模式;模式选择单元(23),从多个模式中选择一个模式;测试信号发生单元(25),产生具有模式选择单元(23)所选择的模式的测试信号;触发信号接收单元(21),接收至少1种触发信号;以及模式映射存储单元(22),对各个模式存储表示使测试信号发生单元(25)反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在使测试信号发生单元(25)反复产生具有该模式的测试信号的途中,触发信号接收单元(21)接收到了触发信号时,模式选择单元(23)对该触发信号的每个种类的动作等的模式映射。
搜索关键词: 测试 信号 发生 装置
【主权项】:
1、一种测试信号发生装置,其包括:测试信号发生单元(25),产生测试信号;模式存储单元(20),存储所述测试信号的多个模式;模式映射存储单元(22),对所述各个模式,存储使所述测试信号发生单元反复产生具有该模式的测试信号的次数、以及在反复产生了该次数的具有该模式的测试信号后,决定使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式的模式映射;以及模式选择单元(23),按照所述模式映射,从所述多个模式选择使所述测试信号发生单元产生的测试信号的模式,所述测试信号发生装置的特征在于,还包括触发信号接收单元(21),接收至少1种触发信号,所述模式映射还表示按所述每个模式与所述触发信号的种类对应的模式,在所述测试信号发生单元按照所述模式映射反复产生所述次数的、具有由所述模式选择单元所选择的模式的测试信号的途中,当所述触发信号接收单元接收到了所述触发信号时,所述模式选择单元根据所述模式映射来选择与该触发信号相对应的模式。
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