[发明专利]晶须得到抑制的Cu-Zn合金耐热镀Sn条有效

专利信息
申请号: 200780014522.5 申请日: 2007-04-26
公开(公告)号: CN101426961A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 波多野隆绍 申请(专利权)人: 日矿金属株式会社
主分类号: C25D5/12 分类号: C25D5/12;C22C9/04;C22C9/06;C25D5/50
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 庞立志;孙秀武
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明在以含有平均浓度15~40质量%的Zn的铜合金作为母材,从表面到母材,由Sn相、Sn-Cu合金相、Ni相各层构成镀膜的Sn镀条中,将该Sn相表面的Zn浓度调整为0.1~5.0质量%。母材可以进一步含有选自Sn、Ag、Pb、Fe、Ni、Mn、Si、Al和Ti中的任意成分总计0.005~3.0质量%。此外,母材可以为含有15~40质量%的Zn、8~20质量%的Ni、0~0.5质量%的Mn,其余部分由Cu和不可避免的杂质构成的铜基合金,可以进一步含有上述任意成分总计0.005~10质量%。从而提供晶须产生得到抑制的Cu-Zn合金的Cu/Ni两层底镀层软熔Sn镀条。
搜索关键词: 得到 抑制 cu zn 合金 耐热 sn
【主权项】:
1. 晶须产生得到抑制的Cu-Zn合金镀Sn条,其特征在于,以含有平均浓度为15~40质量%的Zn的铜合金作为母材,从表面到母材由Sn相、Sn-Cu合金相、Ni相各层构成镀膜,该Sn相表面的Zn浓度为0.1~5.0质量%。
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