[发明专利]采用双导体技术的测量装置有效

专利信息
申请号: 200780014914.1 申请日: 2007-04-23
公开(公告)号: CN101438333A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 埃瓦尔德·罗斯纳;沃尔夫冈·洛泽;托马斯·罗森巴赫;阿明·克卢格;迈尔科·迪·马可;罗兰·霍夫曼;约瑟夫·孔兹 申请(专利权)人: 威卡亚历山大威甘德股份有限公司
主分类号: G08C19/02 分类号: G08C19/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人: 郑小粤
地址: 德国克*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 尽管所述ASIC部件具有较高的电流消耗,但在双导体技术电路中,使用定量的ASIC部件是可行的,例如,允许使用无触点旋转角度传感器。
搜索关键词: 采用 导体 技术 测量 装置
【主权项】:
1. 一种测量装置电路,包括:具有数字存储器的逻辑电路,所述数字存储器用于输入和输出测量信号;可控电流宿,用于控制具有限流范围的电流回路,其中所述可控电流宿用于将所述逻辑电路所提供的信息转换为所述电流回路上的输出电流;专用集成电路,用于检测特定测量运动,所述专用电路与所述逻辑电路连接,所述逻辑电路用于输出与所述运动的测量值相对应的测量信号;和能量存储单元,其与所述可控电流宿连接用于能量输入,且其与所述专用集成电路连接用于能量输出;其中,所述逻辑电路控制所述能量存储单元的连接状态,使得每次当所述专用电路的能量供给中的能量损失达到一定量时,则所述能量存储单元与所述专用电路连接。
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