[发明专利]误差校准有效
| 申请号： | 200780015298.1 | 申请日： | 2007-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN101432592A | 公开（公告）日： | 2009-05-13 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·坦南特·萨瑟兰 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 北京明和龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郁玉成 |
| 地址： | 英国格*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 描述了一种校准安装在机器上的测量探头(10)的方法。所述测量探头(10)具有触针(14)，所述触针(14)具有工件接触尖端(16)。所述方法包括确定探头校准矩阵，所述探头校准矩阵使探头输出(a，b，c)与机器坐标系统(x，y，z)相关联。所述方法包括如下步骤：使用第一探头偏转(d1)扫描校准物(18)，以便获得第一机器数据；使用第二探头偏转(d2)扫描校准物，以便获得第二机器数据。使用所述第一机器数据和所述第二机器数据获得纯探头校准矩阵，其中基本上消除了任何机器误差。有利的是，所述方法基于第一和第二机器位置之间的差异是已知的假定通过数值处理确定所述纯探头矩阵。 | ||
| 搜索关键词： | 误差 校准 | ||
【主权项】：
1. 一种校准安装在机器上的测量探头的方法，所述测量探头具有触针，所述触针具有工件接触尖端，其中，所述方法包括确定探头校准矩阵，所述探头校准矩阵使探头输出与机器坐标系统相关联，所述方法包括如下步骤：(i)使用第一探头偏转扫描校准物，以便获得第一机器数据；(ii)使用第二探头偏转扫描校准物，以便获得第二机器数据；以及(iii)使用所述第一机器数据和所述第二机器数据获得纯探头校准矩阵，其中基本上消除了任何机器误差。
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