[发明专利]散装材料分析器系统

摘要

实时散装材料分析系统，用于分析在移动传送带上经过该系统的散装材料的元素特性，该实时散装材料分析系统包括用于激励被分析的散装材料(30)的发射白光的照明源(50)，以及用于捕获来自通过照明源激励的散装材料的光谱反射的超光谱成像分光计(20)。

主权项

1、用于分析在移动传送带上经过的散装材料(30)的元素特性的实时散装材料分析系统，所述系统包括：-用于激励被分析的散装材料(30)的照明源(50)，-用于捕获来自通过照明源激励的散装材料(30)的光谱反射的光谱传感器(20)，以及-用于比较捕获的光谱反射与存储的校准的控制单元(60)，其中，-所述照明源(50)发射白光，以及-所述传感器包括超光谱成像分光计(20)，该超光谱成像分光计生成两维图像，一维是传送带的球形宽度，并且另一维是反射的波长，图像的每一点因此表示从跨越传送带的特定点反射的特定波长处的能量的量，所述图像数据被转送至控制单元(60)，以及-所述控制单元(60)包括用于比较对于已经被分光计(20)捕获的跨越传送带的每一个特定点的光谱特征(43)与存储的校准的装置，所述光谱特征(43)包括在波长范围内从所述特定点反射的能量的量的连续光谱。