[发明专利]用于在分析检测方法中校正样品基体效应的样品对照无效
| 申请号： | 200780017404.X | 申请日： | 2007-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN101443459A | 公开（公告）日： | 2009-05-27 |
| 发明（设计）人： | K·A·施密特;G·W·吕卡森;S·内尔肯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | C12Q1/68 | 分类号： | C12Q1/68;G01N27/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 林晓红 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明描述了适于确定样品基体对标记检测的效应的方法和系统，以便当在分析检测技术中使用所述标记时允许校正这些样品基体效应。该方法对于在一次性分子诊断盒中的应用是特别有利的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 检测 方法 校正 样品 基体 效应 对照 | ||
【主权项】：
1. 确定样品对标记检测的样品基体效应的方法，所述方法包括步骤：(a)使预定量的所述标记或不同标记与包含样品基体或样品样基体的背景样品接触，(b)使预定量的所述标记或所述不同标记与无背景样品接触，所述无背景样品不含样品基体或样品样基体或能够干扰所述标记的检测的任何其它化合物，(c)检测所述背景样品和所述无背景样品中的所述标记或所述不同标记，和(d)确定在所述背景样品和所述无背景样品中所述标记或所述不同标记的检测之间的差异，所述差异对应于所述样品基体效应。
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