[发明专利]确定体积流量或质量流量的方法与装置无效
| 申请号： | 200780021067.1 | 申请日： | 2007-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN101467010A | 公开（公告）日： | 2009-06-24 |
| 发明（设计）人： | 弗雷德·卡佩茨;马库斯·鲁费纳赫特 | 申请（专利权）人： | 恩德斯+豪斯流量技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01F1/60 | 分类号： | G01F1/60 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙志湧;樊卫民 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定导磁介质(11)的体积流量或质量流量的方法，所述导磁介质流经具有规定的公称内径(DN)的磁感应流量计(1)，其中，流量计(1)被施加有周期性变化的磁场(B(t))，其中，确定直至达到测量磁场的恒定量(Bconst.)的实际上升时间(tIST)，其中，把实际上升时间(tIST)与额定上升时间(tSOLL)进行比较，所述额定上升时间是在基准介质(Ref)以流量(ΦRef)流经流量计(1)时测定的，并且其中，根据实际上升时间(tIST)与额定上升时间(tSOLL)的偏差(Δt)确定测量误差(F)，并通过补偿测量误差(F)而修正实际测量的导磁介质(11)的体积流量或质量流量(ΦIST)。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 体积 流量 质量 方法 装置 | ||
【主权项】：
1. 用于确定介质(11)的体积流量或质量流量的方法，所述介质流经具有规定的公称内径(DN)的磁感应流量计(1)，其中，所述流量计(1)被施加有周期性变化的磁场(B(t))，其中，确定直至达到测量磁场的恒定量(Bconst.)的实际上升时间(τIST)，其中，把所述实际上升时间(τIST)与额定上升时间(τSOLL)进行比较，所述额定上升时间是在基准介质(Ref)以流量(ΦRef)流经所述流量计(1)时测定的，其中，在所述实际上升时间(τIST)与所述额定上升时间(τSOLL)之间的偏差解释为对导磁介质(11)流量的说明，并且其中，根据实际上升时间(τIST)与额定上升时间(τSOLL)的偏差Δτ确定取决于所述偏差的测量误差(F)，并且通过补偿所述测量误差(F)而修正实际测得的所述导磁介质(11)的所述体积流量或质量流量(ΦIST)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恩德斯+豪斯流量技术股份有限公司，未经恩德斯+豪斯流量技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200780021067.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
