[发明专利]具有一次写入金属反射膜的光学记录介质无效

专利信息
申请号: 200780022013.7 申请日: 2007-06-15
公开(公告)号: CN101467210A 公开(公告)日: 2009-06-24
发明(设计)人: 坂本哲洋;中野淳;大川直树;中井淳一;田内裕基 申请(专利权)人: 索尼株式会社;株式会社神户制钢所
主分类号: G11B7/258 分类号: G11B7/258;G11B7/24
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余 刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明可以确定通过物理转写在光学记录介质的基板上形成的凹坑和平面的形状而制备的盗版光盘记录介质。所述光学记录介质具有卓越的耐候性和长期存储可靠性。在通过凹坑和平面的组合记录了主数据的基板上形成由Ag100-x-yXxCuy的Ag合金膜所形成的反射膜,其中,X为Ti、W、Ta、V、Mo、Nb及Zr中的至少一种元素。可以形成标记,使得在所述反射膜上一次写入的记录辅助数据的记录标记的再生信号电平升高,并且在通过物理转写所述基板的凹坑和平面的表面形状而制备的光学记录介质的再生信号电平降低。以这种方式可以确定盗版光学记录介质。
搜索关键词: 具有 一次 写入 金属 反射 光学 记录 介质
【主权项】:
1. 一种具有一次写入金属反射膜的光学记录介质,包括:在基板上至少有层积形成的一次写入金属反射膜和覆盖层,其中主数据以凹坑和平面的组合形式记录在所述基板上,所述一次写入金属反射膜可以通过激光照射的热记录进行一次写入记录,通过利用一次写入记录激光照射所述一次写入金属反射膜所形成的标记来记录辅助数据,形成所述标记的部分的再生信号电平在具有预定长度的平面中升高,并且在通过物理转写所述基板的凹坑和平面的表面形状所制备的光盘记录介质上形成所述标记,使得形成所述标记的部分的再生信号电平降低,其特征在于,由Ag100-x-yXxCuy(x,y:at%)的Ag合金膜形成所述一次写入金属反射膜,所述X为Ti、W、Ta、V、Mo、Nb及Zr的元素中的至少一种元素,并且在所述Ag合金膜中Cu的组成y选择为2≤y≤13[at%]。
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