[发明专利]关于N维数据的离子检测和参数估计

摘要

用于LC/IMS/MS的方法和设备涉及：从样本获得有噪声的原始数据；将数据与伪像减少滤波器进行卷积；以及在保留时间、离子迁移率和质荷比维定位卷积数据的一个或多个离子峰。

主权项

1. 一种LC/IMS/MS分析的方法，包括：从样本获得包括三维数据元素的集合的有噪声的原始数据，所述三维数据元素各将离子计数强度与保留时间维、离子迁移率维和质荷比维关联，其中所述噪声与离子峰伪像关联；在所述离子迁移率维中收缩所述数据元素的集合以获得收缩的数据元素的集合，所述收缩的数据元素各将组合的离子计数强度与所述保留时间和质荷比维关联；将所述收缩的数据元素的集合与关联二维矩阵的伪像减少滤波器进行卷积，由此获得具有减少的峰伪像的收缩的数据元素的卷积集合；在所述保留时间和质荷比维定位所述收缩的数据元素的卷积集合的离子峰；响应所述收缩的数据元素的卷积集合的所定位的离子峰而选择所述有噪声的原始数据的一个或多个部分以用于进一步分析；将所述有噪声的原始数据的所选择的一个或多个部分与关联三维矩阵的伪像减少滤波器进行卷积；以及在所述离子迁移率维中对所述原始数据的各卷积部分定位一个或多个离子峰。