[发明专利]真空成膜装置以及真空成膜方法有效

专利信息
申请号: 200780027962.4 申请日: 2007-07-18
公开(公告)号: CN101495665A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 丸山淳平;小泉康浩 申请(专利权)人: 新明和工业株式会社
主分类号: C23C14/14 分类号: C23C14/14;C23C14/32;C22C5/06;C23C14/06;G11B7/26
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 衷诚宣
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的真空成膜装置(100)具备内部能够减压的真空槽(20)、在真空槽(20)内支持基板(11)的基板托架(12)、对基板托架(12)施加偏压的偏置电源(V1)、在真空槽内,配置在银中添加铋的反射膜用的材料的材料支架(15)、以及从材料支架(15)向基板放出材料,同时在材料放出时使所述材料离子化的材料放出手段,基于偏压使离子化的材料的动能增加,以在基板上堆积材料构成的反射膜,反射膜的反射率基于偏压以及铋的添加量进行调整。
搜索关键词: 真空 装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种真空成膜装置,其特征在于,具备内部能够减压的真空槽、在所述真空槽内支持基板的基板托架、对所述基板托架施加规定的偏压的偏置电源、在所述真空槽内,配置在银中添加铋的反射膜用的材料的材料支架、以及从所述材料支架向所述基板放出所述材料,同时在所述材料放出时使所述材料离子化的材料放出手段,基于所述偏压使所述离子化的材料的动能增加,以在所述基板上堆积所述材料构成的反射膜,所述反射膜的反射率基于所述偏压以及所述铋的添加量进行调整。
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