[发明专利]外围设备装置、外围设备装置的集成电路、以及外围设备装置的不良解析方法无效
| 申请号： | 200780029010.6 | 申请日： | 2007-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101501649A | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | 山本和司 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 许海兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种外围设备装置及其集成电路、以及外围设备装置的不良解析方法。外围设备装置经由接口电缆(3)与计算机(200)连接，具备：第二存储装置(13)，存储外围设备装置(100)以及其集成电路(400)的评价程序(22)；检测部，检测从计算机(200)发送的、模式指示信号表示测试模式还是通常模式；以及起动单元(15)，如果检测部(10)检测出模式指示信号表示测试模式，则起动第二存储装置(13)上的评价程序(22)。由此，可以在向外围设备装置安装了集成电路的状态下，对外围设备装置及其集成电路进行不良解析。 | ||
| 搜索关键词： | 外围设备 装置 集成电路 以及 不良 解析 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种外围设备装置，经由接口与计算机连接，其特征在于，具备：检测部，输入从上述计算机输出的、表示上述外围设备装置在通常模式下动作还是在测试模式下动作的模式指示信号，检测上述模式指示信号表示通常模式还是表示测试模式；第一存储部，存储上述外围设备装置在通常模式下执行的程序；第二存储部，存储从上述计算机发送的关于上述外围设备装置、以及上述外围设备装置的集成电路的评价程序；以及起动单元，在上述检测部检测出是上述通常模式时，起动上述第一存储部上的程序，在上述检测部检测出是上述测试模式时，起动上述第二存储部上的关于上述外围设备装置、以及上述外围设备装置的集成电路的评价程序。
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