[发明专利]半导体器件上自组装的纳米线型互连的制作无效
申请号: | 200780032657.4 | 申请日: | 2007-08-31 |
公开(公告)号: | CN101512753A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
发明(设计)人: | 凯文·库珀;斯尔詹·科尔迪克 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 源;张天舒 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种具有纳米线型互连元件的半导体器件和一种制作该半导体器件的方法。该器件包括具有至少一个自组装的金属枝晶并且形成第一和第二金属结构之间的互连元件(424)的金属结构。该制作包括提供适合于实现第一和第二金属结构之间的至少一个金属枝晶生长的与衬底的互连表面区域相邻的周围环境,和通过用能量适合于在第一和第二掺杂衬底区域中产生自由载流子的光子照射pn结并且因而在第一和第二金属结构之间建立适合于金属从第一和第二金属结构中的至少一个电解出来的电势差,来发起和维持第一和第二金属结构之间的互连表面区域中的包括至少一个金属枝晶的第三金属结构的自组装。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 组装 纳米 线型 互连 制作 | ||
【主权项】:
1. 一种半导体器件(500),包括-半导体衬底(502),该半导体衬底具有由第一导电类型的第一掺杂衬底区域(506)和相反的第二导电类型的第二掺杂衬底区域(526)形成的pn结(537);-该半导体衬底上的层结构,该层结构包括与第一掺杂衬底区域导电连接的第一金属结构(534),此外还包括与第二掺杂衬底区域导电连接的第二金属结构(536),该层结构允许具有适合于在第一掺杂衬底区域(506)和第二掺杂衬底区域(526)中产生自由载流子的能量的光子的传输;和-第三金属结构(538),该第三金属结构包括至少一个自组装的金属枝晶并且形成第一金属结构(534)和第二金属结构(536)之间的互连元件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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