[发明专利]紫外线检测装置和紫外线防护效果评价装置有效
申请号: | 200780035564.7 | 申请日: | 2007-10-03 |
公开(公告)号: | CN101517384A | 公开(公告)日: | 2009-08-26 |
发明(设计)人: | 三浦由将;龙口义浩;白尾雅之;高田定树;畑尾正人;福井宽 | 申请(专利权)人: | 株式会社资生堂;浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;A61B5/00;G01N21/33;H01J40/06;H01L31/09 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种紫外线检测装置(10),从至少包含紫外线的光线中检测出透过测量样品(15)或者从测量样品(15)反射的紫外线,所述紫外线检测装置(10)的特征在于,具有:分光单元(19),从所述光线进行紫外线分光;光检测单元(20),检测出由所述分光单元(19)分光的紫外线,并由只对紫外线进行检测的In、Ga、N、Al、O以及Cs等中选择的元素构成的光电面构成。 | ||
搜索关键词: | 紫外线 检测 装置 防护 效果 评价 | ||
【主权项】:
1、一种紫外线检测装置,从至少包含紫外线的光线中检测出透过测量样品或者从测量样品反射的紫外线,所述紫外线检测装置的特征在于,具有:分光单元,从所述光线进行紫外线分光;光检测单元,检测出由所述分光单元分光的紫外线,并由只对紫外线进行检测的In、Ga、N、Al、O以及Cs中选择的元素构成的光电面构成。
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