[发明专利]读取用于进行时间测量的电荷保持元件的电路有效

专利信息
申请号: 200780036038.2 申请日: 2007-07-20
公开(公告)号: CN101595530A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 弗兰西斯科·拉·罗萨 申请(专利权)人: 意法半导体有限公司
主分类号: G11C27/00 分类号: G11C27/00;G11C7/10
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 韩 龙;阎娬斌
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种读取用于时间测量的电子电荷保持元件(10)的电路以及方法,包括至少一个电容元件(C1,C2)和一个晶体管,上述电容元件具有显示漏电的电介质,上述晶体管具有用于读取残留电荷的绝缘控制端子(5),包括:在两个电源端子之间的两个平行的分支,每个分支包括至少一个第一类型的晶体管(P1,P2)和一个第二类型的晶体管(N3,5),其中一个分支的第二类型的晶体管由将被读取的元件形成,另外一个分支的第二类型的晶体管在其控制端子上接收阶跃信号(VDAC),第一类型晶体管的每个漏极连接到比较器(135)的每个输入端,比较器的输出端(OUT)提供显示电荷保持元件中的残留电压电平。
搜索关键词: 读取 用于 进行 时间 测量 电荷 保持 元件 电路
【主权项】:
1.一种读取用于时间测量的电子电荷保持元件(10)的电路,包括至少一个电容元件(C1,C2)和一个晶体管,上述电容元件具有显示漏电的电介质,上述晶体管具有用于读取残留电荷的绝缘控制端子(5),包括:在两个电源端子之间的两个平行的分支,每个分支包括至少一个第一类型的晶体管(P1,P2)和一个第二类型的晶体管(N3,5),其中一个分支的第二类型的晶体管由将被读取的元件形成,另外一个分支的第二类型的晶体管在其控制端子上接收阶跃信号(VDAC),第一类型晶体管的每个漏极连接到比较器(135)的每个输入端,比较器的输出端(OUT)提供显示电荷保持元件中的残留电压电平。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于意法半导体有限公司,未经意法半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780036038.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top