[发明专利]减小电荷俘获存储器位线干扰和软擦除的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200780037849.4 申请日: 2007-09-28
公开(公告)号: CN101563781A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 弗雷德里克·B·詹纳 申请(专利权)人: 赛普拉斯半导体公司
主分类号: H01L29/76 分类号: H01L29/76
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 平衡非易失性存储器位线干扰的抑制干扰的方法和器件。其中由于抑制干扰产生的阈值偏移增加,由于位线干扰产生的阈值偏移降低,非易失性存储器由于抑制干扰产生在整个生命周期中产生的总的阈值偏移几乎等于非易失性存储器由于位线干扰产生在整个生命周期中产生的总的阈值偏移。
搜索关键词: 减小 电荷 俘获 存储器 干扰 擦除 方法 装置
【主权项】:
1.一种方法,其特征在于,包括:控制存储器矩阵的共享位线;以及降低共享位线上的位线干扰以增加共享位线上的抑制干扰其中由于位线干扰引起的阈值偏移降低,由于抑制干扰引起的阈值偏移增加,以及其中由于位线干扰产生的阈值偏移乘以生命周期中位线干扰的次数几乎等于抑制干扰产生的阈值偏移乘以生命周期中抑制干扰的次数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赛普拉斯半导体公司,未经赛普拉斯半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780037849.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top