[发明专利]电子设备中的有效时钟校准有效

专利信息
申请号: 200780038255.5 申请日: 2007-09-11
公开(公告)号: CN101523726A 公开(公告)日: 2009-09-02
发明(设计)人: J·哈尔特森 申请(专利权)人: 艾利森电话股份有限公司
主分类号: H03L7/00 分类号: H03L7/00;G01R23/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;刘春元
地址: 瑞典斯*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 确定出指示在代表性校准周期期间的参考时钟的相对振荡速度的代表性测量。定义多个校准周期,该多个校准周期包括第一校准周期和第二校准周期。该第一校准周期开始于第一开始时间,其中第一时间偏移值等于第一开始时间和第一校准周期内的参考时钟信号的转变点之间的差。该第二校准周期开始于第二开始时间,其中第二时间偏移值等于第二开始时间和第二校准周期内的参考时钟信号的转变点之间的差。该第一时间偏移值和第二时间偏移值彼此不同。通过对于该校准周期的每一个,测量参考时钟的速度来产生多个测量。然后平均该多个测量。
搜索关键词: 电子设备 中的 有效 时钟 校准
【主权项】:
1、一种确定出指示在代表性校准周期期间的参考时钟的相对振荡速度的代表性测量的方法,其中该参考时钟产生参考时钟信号,以及其中由非参考时钟产生的信号的已知数目的循环持续该代表性校准周期,该方法包括:定义多个校准周期,该多个校准周期包括第一校准周期和第二校准周期;使该第一校准周期开始于第一开始时间,其中第一时间偏移值等于该第一开始时间和该第一校准周期内的参考时钟信号的转变点之间的差;使该第二校准周期开始于第二开始时间,其中第二时间偏移值等于该第二开始时间和该第二校准周期内的参考时钟信号的转变点之间的差,并且其中该第一时间偏移值不同于该第二时间偏移值;通过对于该多个校准周期的每一个,确定出指示在该多个校准周期中的所述一个校准周期期间的参考时钟的相对振荡速度的特性,来产生多个测量;使用该多个测量来确定出平均测量值;以及使用该平均测量值作为指示在该代表性校准周期期间的参考时钟的相对振荡速度的代表性测量。
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