[发明专利]制备过氧羧酸的装置和方法有效

专利信息
申请号: 200780038885.2 申请日: 2007-09-19
公开(公告)号: CN101528683A 公开(公告)日: 2009-09-09
发明(设计)人: D·迈克谢里;R·斯特劳布;D·托尔曼;李俊忠;K·洛克斯莫 申请(专利权)人: 埃科莱布有限公司
主分类号: C07C407/00 分类号: C07C407/00;C07C409/24;C07C409/26
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 夏正东
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及制备过氧羧酸的装置和方法。该装置包括反应催化剂和预处理一种或多种反应物的保护塔,其可以提高反应催化剂的寿命、活性和/或安全性。由该方法和装置制备的过氧羧酸组合物可以包括一种或多种过氧羧酸。
搜索关键词: 制备 过氧 羧酸 装置 方法
【主权项】:
1.用于制备过氧羧酸的装置,该装置包含:第一预处理塔、第一反应催化剂塔、第一和第二反应物容器、安全系统、反应物管路、反应混合物管路以及过酸管路;第一和第二反应物容器经由反应物管路与第一预处理塔流体连通;配置第一反应物容器用于包含液体氧化剂组合物,配置第二反应物容器用于包含液体羧酸组合物;该反应物管路限定该反应物的混合室;第一预处理塔经由反应混合物管路与第一反应催化剂塔流体连通;配置第一预处理塔用于从该羧酸组合物和该氧化剂组合物的混合物去除金属离子;配置第一反应催化剂塔用于催化该羧酸和该氧化剂的反应以产生过氧羧酸;第一反应催化剂塔经由过酸管路与过氧羧酸组合物存储或应用的位置流体连通;安全系统包含处理器、第一状态传感器、和第二状态传感器;第一状态传感器布置在该混合室之中或之上以及配置用于测量该反应物的状态;第二状态传感器布置在第一预处理塔处或第一预处理塔之中或布置在接近第一预处理塔出口的反应混合物管路之中以及配置用于测量该反应物的状态;配置该处理器用于确定通过该第一状态传感器测量的状态和通过该第二状态传感器测量的状态之间的差值并且如果该差值满足或超过预定值,则提供可检测的信号。
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