[发明专利]用于栅极叠层结构的集群顺序处理的方法无效
申请号: | 200780040191.2 | 申请日: | 2007-11-20 |
公开(公告)号: | CN101529599A | 公开(公告)日: | 2009-09-09 |
发明(设计)人: | 蔡泰正;克里斯托弗·肖恩·奥尔森;科里·恰尼克;朱斯皮纳·康蒂 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/00 | 分类号: | H01L31/00;H01L21/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐金国;陈 红 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种形成包括硅和氧的栅极电介质的方法。栅极电介质还可包括氮或另一种高k材料。在一个方面,形成栅极电介质包括在氧化气氛中退火衬底以形成氧化硅层,通过气相沉积在氧化硅层上沉积氮化硅层或高k层,氧化氮化硅层或高k层的上表面,之后退火衬底。可在集成处理系统中形成栅极电介质。 | ||
搜索关键词: | 用于 栅极 结构 集群 顺序 处理 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在衬底上形成包括硅和氧的栅极电介质的方法,包括:在氧化气氛中实施首次退火包括硅的衬底以在所述衬底上形成氧化硅层;通过化学气相沉积或者原子层沉积在所述氧化硅层上沉积氮化硅层或高k层,该高k层选自由氧化铪层、硅酸铪层和硅酸镧铪层组成的组;将所述氮化硅层或高k层暴露到包括氧的等离子体中以氧化所述氮化硅层或高k层的上表面;和之后实施第二次退火所述衬底。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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