[发明专利]金属物体检测设备无效

专利信息
申请号: 200780041006.1 申请日: 2007-06-08
公开(公告)号: CN101535843A 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: R·G·亨夫里斯;M·N·基内 申请(专利权)人: 秦内蒂克有限公司
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;徐予红
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 金属物体检测设备(30)包括:发射器装置(32)、(34),用于生成具有合成的磁场方向的主磁场,该合成的磁场方向沿着通过监测体积的任何基本上线性的路径变化,使得在沿着所述路径的三个位置上该合成的磁场指向基本上相互正交的三个方向;检测装置,用于当金属物体通过穿过监测体积的多个测量点时,测量由于在监测体积内出现金属物体而在多个位置处作为时间的函数的次生磁场;以及处理装置(46),用于从测量的次生磁场确定包括金属物体的多个位置的金属物体通过监测体积的轨迹以及在每个位置的磁矩。处理装置(46)适于用于从中推导出磁异常特征,该磁异常特征表征金属物体并且独立于金属物体的取向和轨迹。设备(30)能够基于金属物体的磁异常特征来同时分类或识别多个金属物体。
搜索关键词: 金属 物体 检测 设备
【主权项】:
1. 一种金属物体检测设备,包括:(i)发射器装置,用于生成监测体积内的时变主磁场,所述主磁场具有在基本上全部监测体积中的非零量幅值和合成的磁场方向,所述合成的磁场方向沿着通过监测体积的任何基本上线性的路径变化,使得在沿着所述路径的三个位置上合成的磁场指向三个基本上相互正交的方向,(ii)检测装置,用于当金属物体通过穿过监测体积的多个测量点时,测量由于在监测体积内出现金属物体而在多个位置处作为时间的函数的次生磁场,所述检测装置被布置为显著抑制主磁场,以及(iii)处理装置,用于从测量的次生磁场确定包括金属物体在监测体积内的多个位置的通过监测体积的轨迹以及金属物体在每个位置的磁矩,所述处理装置适于用于从中推导出磁异常特征,所述磁异常特征表征金属物体并且独立于通过监测体积的金属物体的取向和轨迹。
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