[发明专利]利用直线加速器的厚层转移的方法和结构有效
申请号: | 200780041135.0 | 申请日: | 2007-11-06 |
公开(公告)号: | CN101536169A | 公开(公告)日: | 2009-09-16 |
发明(设计)人: | 弗兰乔斯·J·亨利;艾伯特·拉姆;巴巴克·阿迪比 | 申请(专利权)人: | 硅源公司 |
主分类号: | H01L21/425 | 分类号: | H01L21/425 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 吴贵明;张 英 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用一个或多个半导体衬底,如单晶硅、多晶硅、锗化硅、锗、III/IV族材料等制造自支撑材料厚度的方法。在特定实施方式中,本方法包括提供具有表面区和厚度的半导体衬底。该方法包括使半导体衬底的表面区经受用直线加速器生成的第一多个高能粒子,从而在剥离区内形成多个吸除点的区域,剥离区被提供在表面区下面从而限定待分离材料的厚度,半导体衬底被保持在第一温度。在特定实施方式中,该方法包括使半导体衬底的表面区经受用直线加速器生成的第二多个高能粒子,该第二多个高能粒子用来将剥离区的应力水平从第一应力水平提高到第二应力水平。在优选实施方式中,半导体衬底被保持在比第一温度高的第二温度。该方法采用剥离工艺,如受控的剥离工艺,来释放可分离的材料厚度。 | ||
搜索关键词: | 利用 直线 加速器 转移 方法 结构 | ||
【主权项】:
1. 一种用一个或多个半导体衬底制造自支撑材料厚度的方法,包括:提供具有表面区和厚度的半导体衬底;使所述半导体衬底的所述表面区经受用直线加速器产生的第一多个高能粒子,从而在剥离区内形成多个吸除点的区域,所述剥离区被设置在所述表面区下面以限定待分离材料的厚度,所述半导体衬底被保持在第一温度;使所述半导体衬底经受处理工序;使所述半导体衬底的所述表面区经受用直线加速器产生的第二多个高能粒子,所述第二多个高能粒子设置为将所述剥离区的应力水平从第一应力水平提高到第二应力水平,所述半导体衬底被保持在第二温度;以及用剥离工艺释放所述可分离材料的厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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