[发明专利]光学微层析成像的焦平面跟踪有效
| 申请号： | 200780041453.7 | 申请日： | 2007-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN101536016A | 公开（公告）日： | 2009-09-16 |
| 发明（设计）人： | M·E·福韦;E·J·赛贝尔;M·G·梅耶尔;A·C·尼尔森;R·J·拉恩;T·诺伊曼;R·H·约翰逊 | 申请（专利权）人： | 华盛顿大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 美国华*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于在光学层析成像系统中跟踪对象(414)的方法，其中该对象(414)被包含在具有旋转中心(422)的管(410)中，该对象(414)具有质心(415)，且该对象(414)偏离所述旋转中心。通过在所述对象(414)旋转时穿过扩展的景深扫描对象(414)来获得图像数据。根据图像数据来计算所述对象(414)的质心(415)离所述旋转中心的距离值，根据所获得的图像数据来计算旋转角度值(βR)。确定所述对象(414)的广度，将被扫描的扩展的景深限定为小于或等于所述对象(414)的广度，从而提高产生的伪投影图像中的图像分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 层析 成像 平面 跟踪 | ||
【主权项】：
1、一种用于在光学层析成像系统中跟踪对象(414)的方法，其中所述对象(414)被包含在具有旋转中心(422)的管(410)中，所述对象(414)具有质心(415)，且所述对象(414)偏离所述旋转中心，该方法包括以下步骤：通过在所述对象(414)旋转时穿过扩展的景深扫描所述对象(414)来获得图像数据；计算所述对象(414)的质心(415)离所述旋转中心的距离值，其中所述距离值是根据所获得的图像数据来计算的；计算在所选择的位置(Pn)中的所述对象(414)的旋转角度值(βn)，其中所述旋转角度值(βn)是根据所获得的图像数据来计算的；确定所述对象(414)的广度；以及将被扫描的扩展的景深限定为小于或等于所述对象(414)的广度，从而提高产生的伪投影图像中的图像分辨率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华盛顿大学，未经华盛顿大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200780041453.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
