[发明专利]用于光学信息再现装置的跟踪装置有效

专利信息
申请号: 200780042505.2 申请日: 2007-11-16
公开(公告)号: CN101536096A 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: 中村正义;西冈昭彦;中田康夫 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/085
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 韩 宏;夏 青
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种用于光学信息再现装置的跟踪装置包括下列部件:光电检测器(1),其中会聚在记录介质上的光点的远场图案形成在整个被划分的光接收单元上;运算单元(2),用于由所述光电检测器(1)的所述输出中输出至少一对运算信号;相位比较器(4),用于检测所述运算单元(2)的输出信号之间的相位差;绝对值检测器(8),用于检测所述相位比较器(4)的所述输出信号的绝对值;电平检测器(9),用于通过对所述绝对值检测器(8)的所述输出信号变得大于预定值检测预定次数或者更多次来生成表示所述光点的会聚位置是否偏离信息轨道的信号;灵敏度检测器(10),用于通过观测所述电平检测器(9)的所述输出信号来检测并输出所述电平检测器(9)的所述灵敏度;以及控制器(11),用于调整所述电平检测器(9)的所述检测条件,使得所述灵敏度检测器(10)的所述输出为预定值。
搜索关键词: 用于 光学 信息 再现 装置 跟踪
【主权项】:
1、一种用于光学信息再现装置的跟踪装置,包括:光电检测器,包括通过与记录介质的信息轨道的映射延伸的方向基本平行的分界线和基本垂直于前述分界线的分界线而被划分为至少四个区域的光接收单元,在所述记录介质上光学地记录有信息,其中会聚在所述记录介质上的光点的远场图案形成在所划分的光接收单元的整个区域上;运算单元,用于接收所述光电检测器的输出并且输出至少一对运算信号,从而能够检测跟踪相位差;相位比较器,用于检测所述运算单元的输出信号之间的相位差;绝对值检测器,用于检测所述相位比较器的输出信号的绝对值;电平检测器,用于通过检测所述绝对值检测器的输出信号的过阈值频率变得大于预定值来生成并输出表示所述光点的会聚位置是否偏离所述记录介质的信息轨道的信号;灵敏度检测器,用于通过观测由所述电平检测器输出的信号来检测并输出所述电平检测器的灵敏度;以及控制器,用于调整所述电平检测器的检测条件,使得所述灵敏度检测器的输出为预定值。
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