[发明专利]同轴飞行时间质谱仪

摘要

公开了一种同轴飞行时间质谱仪，包括纵轴、以及在纵轴的相对的端部处的第一和第二离子镜。离子沿着偏离纵轴的输入轨迹进入质谱仪，并且在所述镜之间经历一次或多次通过之后，沿着偏离纵轴的输出轨迹离开，用于由离子探测器检测。所述输入轨迹和所述输出轨迹以不大于tan(I)的角度偏离所述纵轴，其中D_min是所述离子镜的横向尺寸或其最小横向尺寸，且L为所述离子镜的入口之间的距离。

主权项

1.一种同轴飞行时间质谱仪，包括：以相对关系设置在公共纵轴上的第一静电离子镜和第二静电离子镜；离子源，用于将离子沿输入轨迹供给至所述离子镜，所述离子经由第一同步点被供给；以及离子探测装置，用于接收在所述离子镜处被反射的沿着输出轨迹的离子，在所述接收的离子在所述离子镜之间已经进行至少一次通过之后，所述离子在第二同步点处或经由第二同步点在所述探测装置处被接收，其中所述输入轨迹和所述输出轨迹以小于或等于tan-1[Dmin/2L]的角度偏离所述纵轴，其中Dmin是所述离子镜的外部横向尺寸或所述离子镜的最小外部横向尺寸，且L为所述离子镜的入口之间的距离。