[发明专利]用于高温应用的焊料凸点/凸点下金属结构有效
申请号: | 200780045879.X | 申请日: | 2007-12-06 |
公开(公告)号: | CN101632160A | 公开(公告)日: | 2010-01-20 |
发明(设计)人: | 迈克尔·E·约翰逊;托马斯·施特罗特曼;琼·弗尔蒂斯 | 申请(专利权)人: | 弗利普芯片国际有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 吴贵明;张 英 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供了用于在250℃及以上的温度进行操作的焊料凸点结构,其包含UBM结构上的焊料凸点。根据第一实施方式,该UBM结构包含Ni-P层、Pd-P层和金层,其中Ni-P和Pd-P层作为屏障层和/或可焊接/可粘结层。金层作为保护层。根据第二实施方式,该UBM结构包含Ni-P和金层,其中Ni-P层作为扩散屏障层以及可焊接/可粘结层,而金层作为保护层。根据第三实施方式,该UBM结构包含:(i)金属薄层,例如钛或铝或Ti/W合金;(ii)金属,例如NiV、W、Ti、Pt、TiW合金或Ti/W/N合金;以及(iii)金属合金,例如Pd-P、Ni-P、NiV、或TiW,接着为金层。可替代地,金、银、或钯凸点可以用于替代UBM结构中的焊料凸点。 | ||
搜索关键词: | 用于 高温 应用 焊料 凸点下 金属结构 | ||
【主权项】:
1.一种互连凸点结构,包括:材料的合金层,所述材料选自由Ni-P和Pd-P组成的组;金层,位于所述合金层之上;以及凸点,位于所述金层之上,所述凸点的材料选自由PbSbGa、PbSb、AuGe、AuSi、AuSn、ZnAl、CdAg、GeAl、Au、Ag、Pd、Pb、Ge、Sn、Si、Zn、Al及它们的组合组成的组。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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