[发明专利]测量凝集参数有效

专利信息
申请号: 200780047032.5 申请日: 2007-12-18
公开(公告)号: CN101627297A 公开(公告)日: 2010-01-13
发明(设计)人: W·U·迪特默;P·德基维特;J·H·纽文休斯;M·W·J·普林斯;L·J·范伊曾多尔恩;X·J·A·詹森 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N33/543;G01R33/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 周 铁;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 描述了用来测量在反应腔中进行的采用一种或者多种磁性粒子的目标物—诱导的凝集分析中的凝集的方法和系统。在所述分析中提供能够结合到目标物(5)的磁性粒子(3,15)后,实施产生包括至少一种磁性粒子的凝集的粒子(100)的凝集过程。该方法还进一步包括对所述分析施加交变磁场(HAC),并测量所述HAC对未附着到任何表面的一种或者多种磁性粒子(3,15)的影响。所测量的影响指示一个或者多个凝集参数。
搜索关键词: 测量 凝集 参数
【主权项】:
1、一种在于反应腔中进行的目标物-诱导的凝集分析中测定一种或者多种粒子(3,15)的凝集的方法,该方法包括如下步骤:-在分析中提供磁性粒子(3,15),所述磁性粒子能够结合到目标物(5),-实施凝集过程产生凝集的粒子(100),其包括至少一种所述磁性粒子(3,15),-对所述反应腔中的所述分析施加交变磁场(HAC),和-使用所述至少一个传感器元件测量所述HAC对未附着到所述反应腔的任何表面上的所述一种或者多种磁性粒子(3,15)的影响,其中所测量的影响指示一个或者多个凝集参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司,未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780047032.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top