[发明专利]测量凝集参数有效
申请号: | 200780047032.5 | 申请日: | 2007-12-18 |
公开(公告)号: | CN101627297A | 公开(公告)日: | 2010-01-13 |
发明(设计)人: | W·U·迪特默;P·德基维特;J·H·纽文休斯;M·W·J·普林斯;L·J·范伊曾多尔恩;X·J·A·詹森 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N33/543;G01R33/12 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 周 铁;谭祐祥 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 描述了用来测量在反应腔中进行的采用一种或者多种磁性粒子的目标物—诱导的凝集分析中的凝集的方法和系统。在所述分析中提供能够结合到目标物(5)的磁性粒子(3,15)后,实施产生包括至少一种磁性粒子的凝集的粒子(100)的凝集过程。该方法还进一步包括对所述分析施加交变磁场(HAC),并测量所述HAC对未附着到任何表面的一种或者多种磁性粒子(3,15)的影响。所测量的影响指示一个或者多个凝集参数。 | ||
搜索关键词: | 测量 凝集 参数 | ||
【主权项】:
1、一种在于反应腔中进行的目标物-诱导的凝集分析中测定一种或者多种粒子(3,15)的凝集的方法,该方法包括如下步骤:-在分析中提供磁性粒子(3,15),所述磁性粒子能够结合到目标物(5),-实施凝集过程产生凝集的粒子(100),其包括至少一种所述磁性粒子(3,15),-对所述反应腔中的所述分析施加交变磁场(HAC),和-使用所述至少一个传感器元件测量所述HAC对未附着到所述反应腔的任何表面上的所述一种或者多种磁性粒子(3,15)的影响,其中所测量的影响指示一个或者多个凝集参数。
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