[发明专利]原子层沉积的技术无效
申请号: | 200780050199.7 | 申请日: | 2007-12-03 |
公开(公告)号: | CN101631894A | 公开(公告)日: | 2010-01-20 |
发明(设计)人: | 维克拉姆·辛;哈勒德·M·波辛;艾德蒙德·J·温德;安东尼·雷诺;乔治·D·帕帕守尔艾迪斯 | 申请(专利权)人: | 瓦里安半导体设备公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;H01L21/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 美国麻*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种原子层沉积的技术。在一实施例中,此技术为一种应变薄膜的形成方法。此方法可包括向基板表面供应一种或多种前驱物质,此前驱物质具有至少一第一物种的原子以及至少一第二物种的原子,从而在基板表面上形成一层前驱物质。此方法还包括将基板表面暴露于等离子体产生的第三物种的亚稳态原子,其中亚稳态原子从基板表面脱附所述至少一第二物种的原子,以形成所述至少一第一物种的原子层。通过控制原子层沉积工艺中的一种或多种参数,可达成至少一第一物种的所述原子层内的期望的应力大小。 | ||
搜索关键词: | 原子 沉积 技术 | ||
【主权项】:
1.一种应变薄膜的形成方法,所述方法包括以下步骤:向一基板表面供应一种或多种前驱物质,所述前驱物质具有至少一第一物种的原子以及至少一第二物种的原子,从而在所述基板表面上形成一层所述前驱物质;以及将所述基板表面暴露于等离子体产生的一第三物种的亚稳态原子,其中所述亚稳态原子从所述基板表面脱附所述至少一第二物种的原子,以形成所述至少一第一物种的一原子层;其中所述至少一第一物种的所述原子层内的期望的应力大小的达成是通过控制从以下参数所构成的族群中选择的一种或多种参数:沉积温度、所述至少一第一物种的所述原子层的成分、所述至少一第一物种的所述原子层内的杂质的数量以及与所述第三物种的所述亚稳态原子相关联的通量或能量。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的