[发明专利]闪速存储器的内置自测试

摘要

本发明涉及在数据处理设备——尤其是移动终端——中的闪速存储器设备(200)的内置自测试，该闪速存储器设备包括：具有多个数据块的闪速存储器(220)；数据块存储器(230)，用于临时存储所述数据块中的一个数据块；CPU(210)；以及测试存储器(240)，其包括存储的、可由CPU(210)执行的测试程序；其中所述方法包括：a)从闪速存储器(220)的所述多个数据块的第一数据块中读取数据；b)将读取的数据临时存储到数据块存储器(230)中；c)从测试存储器(240)中读取测试模式；d)将所述测试模式写入到第一数据块；e)将写入到第一数据块的测试模式读回；f)通过比较在步骤d)中写入到第一数据块的测试模式与在步骤e)中读回的测试模式，从而执行数据块测试以查看第一数据块是否损坏；g)报告在步骤f)中执行的数据块测试的结果；以及h)通过把所述读取的数据从数据块存储器(230)中写回到第一数据块中，从而还原第一存储器块。

主权项

1.一种测试闪速存储器设备的方法，该闪速存储器设备具有：包括多个数据块的闪速存储器；数据块存储器，用于临时存储所述数据块中的一个数据块；CPU；以及测试存储器，其包括存储的、可由CPU执行的测试程序；所述方法包括下列步骤：a)从闪速存储器的所述多个数据块的第一数据块中读取数据；b)将读取的数据临时存储到数据块存储器中；c)从测试存储器中读取测试模式，d)将所述测试模式写入到第一数据块；e)将写入到第一数据块的测试模式读回；f)通过比较在步骤d)中写入到第一数据块的测试模式与在步骤e)中读回的测试模式，从而执行数据块测试以查看第一数据块是否损坏；g)报告在步骤f)中执行的数据块测试的结果；以及h)通过把所述读取的数据从数据块存储器中写回到第一数据块中，从而还原第一数据块。