[发明专利]光子检测器的辨别参数计算方法及使用该计算方法的核医学诊断装置无效
申请号: | 200780052145.4 | 申请日: | 2007-04-27 |
公开(公告)号: | CN101627321A | 公开(公告)日: | 2010-01-13 |
发明(设计)人: | 大谷笃 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01T1/161 | 分类号: | G01T1/161;G01T1/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光子检测器的辨别参数计算方法,以积蓄有输出波形信号的数据为对象,应用近似对于能量比的计数波形的两种拟合函数,计算两拟合函数的拟合参数,根据两拟合参数求出达到两拟合函数的峰值的1/n的计数,并且计算与该计数相对应的两拟合函数的能量比的值并将其作为辨别参数k。这样,无论第一光子检测元件(35)还是第二光子检测元件(37),都可以在按照拟合函数进行拟合后,根据拟合参数自动地计算辨别参数k,所以,可以高精度地计算辨别参数。因而,可以比较容易地求出能够充分获得光子检测器(17)的性能的辨别参数k。 | ||
搜索关键词: | 光子 检测器 辨别 参数 计算方法 使用 核医学 诊断 装置 | ||
【主权项】:
1、一种光子检测器的辨别参数计算方法,对于在光源侧和其里侧具备多层种类不同的光子检测元件的光子检测器,对其输出波形信号进行波形辨别,计算用于特定与光子相互作用的光子检测元件的辨别参数,其特征在于,具备:以积蓄有输出波形信号的数据为对象,应用对对于能量比的计数波形进行近似的两种拟合函数的过程;计算所述两拟合函数的拟合参数的过程;根据所述两拟合参数求出达到所述两拟合函数的峰值的1/n的计数,并且计算与它们对应的两拟合函数的能量比的值并将其作为辨别参数的过程。
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