[发明专利]液晶显示面板及其检查方法有效
申请号: | 200780052593.4 | 申请日: | 2007-12-13 |
公开(公告)号: | CN101652705A | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 木田和寿 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01R31/00;G02F1/1345 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 | 代理人: | 权鲜枝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 为了谋求能可靠地检测在液晶显示面板的绝缘性基板上产生的、以后造成大的破裂的可能性较高的开裂或瑕疵,防止次品流出,降低生产成本,同时提供可靠性高的液晶显示面板,在由像素基板(2)和对置基板(4)夹持液晶层而成的液晶显示面板(1)中,沿着像素基板(2)的外周缘设有第1检查配线(5a),并且在第1检查配线(5a)的内周侧设有第2检查配线(5b),其中所述像素基板(2)是在绝缘性基板上相互交叉配设多个扫描线(6)和多个数据线(7)而成的,所述对置基板(4)在绝缘性基板上具备对置电极。 | ||
搜索关键词: | 液晶显示 面板 及其 检查 方法 | ||
【主权项】:
1.一种液晶显示面板,由像素基板和对置基板夹持液晶层而成,所述像素基板在绝缘性基板上具备多个像素电极和进行上述像素电极的开关的开关元件,所述对置基板在绝缘性基板上具备对置电极,所述液晶显示面板的特征在于:沿着上述像素基板的外周缘配设有第1检查配线,利用与该第1检查配线的两端电连接的第1检查焊盘进行上述第1检查配线的电阻检查,从而检测在上述像素基板外缘产生的开裂或裂纹。
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