[发明专利]测试装置、电路装置以及程序无效

专利信息
申请号: 200780053815.4 申请日: 2007-07-17
公开(公告)号: CN101755220A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 小塚纪义 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种测试装置,其可不增加总线的数量而增设动作单元。该对被测试器件进行测试的装置包括:多个动作单元,其依据所给予的控制数据,为对被测试器件进行测试而动作;控制部,其生成数据包,该数据包包括控制数据及用于表示应选择哪个动作单元的单元选择数据;多个数据传送单元,其纵向串联设置并依次传送数据包,且与至少一个动作单元分别对应设置,在所接收的数据包中包含表示应选择与自己对应的动作单元的单元选择数据的情况下,对所选择的所述动作单元输入所述数据包中包含的所述控制数据,或是从该动作单元中读出数据。
搜索关键词: 测试 装置 电路 以及 程序
【主权项】:
一种测试装置,用于对被测试器件进行测试,其包括:多个动作单元,其根据所给予的控制数据,为对所述被测试器件进行测试而动作;控制部,其生成数据包,该数据包包括所述控制数据及用于表示应选择哪个所述动作单元的单元选择数据;以及多个数据传送单元,其纵向串联设置,依次传送所述数据包,且与至少一个所述动作单元分别对应设置,在所接收的所述数据包中包含的所述单元选择数据表示应选择与自己对应的所述动作单元的情况下,对所选择的所述动作单元输入所述数据包中包含的所述控制数据,或是从该动作单元中读出数据。
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