[发明专利]用于检测能量在150eV至300keV范围内的粒子辐射的检测器以及具有这种检测器的材料映像装置有效
| 申请号： | 200780100954.8 | 申请日： | 2007-10-04 |
| 公开（公告）号： | CN101861529A | 公开（公告）日： | 2010-10-13 |
| 发明（设计）人： | 乌尔丽克·伦德·奥尔森;亨宁·弗里斯·波尔森;瑟伦·施密特 | 申请（专利权）人： | 丹麦技术大学 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王旭 |
| 地址： | 丹麦*** | 国省代码： | 丹麦;DK |
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| 摘要： | 本发明提供用于检测粒子辐射，特别是具有在150eV至300keV范围内的能量的粒子辐射的检测器，所述检测器包括至少一个检测器元件，所述检测器元件包括：半导体检测器材料；至少一组线形电极，所述线形电极导电连接到所述半导体检测器材料的至少一个表面，每一组包括平行延伸的多个线形电极；和信号处理器，所述信号处理器与所述线形电极通信，其中，在每一组中，所述线形电极以小于3μm的带间距布置，并且所述半导体检测器材料的厚度小于所述线形电极的带间距的三倍。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 能量 150 ev 300 kev 范围内 粒子 辐射 检测器 以及 具有 这种 材料 | ||
【主权项】：
一种用于检测能量在150eV至300keV范围内的粒子辐射的检测器，所述检测器具有至少一个检测器元件，所述检测器元件包括：在检测器区域中的半导体检测材料；至少一组线形电极，所述电极在所述检测器区域中延伸并且导电连接到所述半导体检测器材料的至少一个表面；和与所述线形电极通信的信号处理器，其中单独组的线形电极包括多个线形电极，所述线形电极在所述单独组中以最大3μm的带间距布置，并且所述半导体检测器材料的厚度(t)最大是所述线形电极的带间距(s)的三倍。
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