[发明专利]可降低噪声干扰的测试端口处理方法无效

专利信息
申请号: 200810001109.1 申请日: 2008-01-15
公开(公告)号: CN101488999A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 陈怡蓁;林建荣;何建勋 申请(专利权)人: 诚实科技股份有限公司
主分类号: H04M3/22 分类号: H04M3/22;H04M1/74
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 张颖玲;张 瑾
地址: 台湾省桃园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法,可以应用于待测组件进行检测或软件刻录,该处理方法包括:提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口,将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联,该零欧姆电阻单元的第二端与测试端口电性连接,最后,在检测或软件刻录完毕后,将该零欧姆电阻单元的第一端与待测系统断开,形成断路状态,并将零欧姆电阻单元的第一端接地,以降低噪声产生的机率并增加电路布线的灵活性。
搜索关键词: 降低 噪声 干扰 测试 端口 处理 方法
【主权项】:
1、一种可降低噪声干扰的测试端口处理方法,应用于检测或软件刻录的待测组件上,其特征在于,该方法包括:提供零欧姆电阻单元、待测系统及测试端口;将该零欧姆电阻单元的第一端与该待测系统电性串联,该零欧姆电阻单元的第二端与所述测试端口电性连接;在检测或软件刻录后,将该零欧姆电阻单元的第一端与所述待测系统断开,呈断路状态,并将零欧姆电阻单元的第一端接地,阻断信号源产生。
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