[发明专利]电子检验装置及检测方法无效

专利信息
申请号: 200810001594.2 申请日: 2008-01-14
公开(公告)号: CN101487844A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 林谦德;徐文忠;庄琮凯;王建华 申请(专利权)人: 开物科技股份有限公司
主分类号: G01N33/76 分类号: G01N33/76;G01N21/78;G01N33/558
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 张敬强
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是关于一种电子检验装置及检测方法,可快速检测反应线的变化,大幅提高检测效率。本发明电子检验装置包含:检验试纸,具有第一反应线与第二反应线;电路板,配置光源、第一检测器与第二检测器,且该光源介于该第一与第二检测器之间;以及遮光装置,形成第一室、第二室与第三室,且该第一与第二室之间形成一第一狭缝,该第二与第三室之间形成第二狭缝;其中,该第一、第二与第三室分别罩遮该第一检测器、光源与第二检测器,且该第一检测器经由该第一狭缝检测该光源投射于该第一反应线之反射光,该第二检测器经由该第二狭缝检测该光源投射于该第二反应线之反射光。另一方面,实施于该电子检验装置上的检测方法而能进一步提高检测的准确性。
搜索关键词: 电子 检验 装置 检测 方法
【主权项】:
1. 一种电子检验装置,包含:检验试纸,具有第一反应线与第二反应线;电路板,配置光源、第一检测器与第二检测器,且前述光源介于前述第一与第二检测器之间;以及遮光装置,形成第一室、第二室与第三室,且前述第一与第二室之间形成第一狭缝,前述第二与第三室之间形成第二狭缝;其中,前述第一、第二与第三室分别罩遮前述第一检测器、光源与第二检测器,且前述第一检测器经由该第一狭缝检测该光源投射于该第一反应线之反射光,前述第二检测器经由该第二狭缝检测该光源投射于该第二反应线之反射光。
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