[发明专利]改变测量系统的一个或多个参数的方法有效
| 申请号： | 200810001654.0 | 申请日： | 2005-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN101201313A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | E·卡尔文 | 申请（专利权）人： | 卢米尼克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G06K9/62;G06K9/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 沈昭坤 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于改变测量系统的一个或多个参数的方法。一种方法包括使用系统来分析试样以从系统分类通道产生试样中一群粒子的值。该方法也包括识别群的值所处的分类空间中的区域。此外，该方法包括使用区域的一个或多个特性确定群的最佳分类区域。该最佳分类区域包含预定百分率的群的值。该最佳分类区域可被用作添加试样中的粒子的分类。 | ||
| 搜索关键词： | 改变 测量 系统 一个 参数 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于改变测量系统的一个或多个参数的方法，包括：使用系统来分析试样以从系统分类通道产生试样中的一群粒子的值；识别群的值所处的分类空间中的区域，以及基于预定百分率的群的值，使用所述区域的一个或多个特性确定群的最佳分类区域，使得所述最佳分类区域包含所述预定百分率的群的值，其中所述最佳分类区域被用作添加试样中的粒子的分类。
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