[发明专利]存储器控制器、存储器芯片和用于操作存储单元集合的方法有效
| 申请号： | 200810001976.5 | 申请日： | 2008-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN101217057A | 公开（公告）日： | 2008-07-09 |
| 发明（设计）人： | 林仲汉 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G11C7/10 | 分类号： | G11C7/10;G11C7/00;G11B20/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 康建忠 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及存储器控制器、存储器芯片和用于操作存储单元集合的方法。操作过程提供用于使有关存储单元的特性参数的水平的数量最大化的成本有效方法。所述过程利用统计分析以确定与特性参数值相关的最可能的二进制值。在一个实施例中，接收单元读取包含目标存储单元的存储单元集合中的各存储单元的特性参数的值。产生单元对于存储单元集合的可能的二进制值中的每一个产生特性参数的概率分布函数。产生单元使用所述概率分布函数以确定目标存储单元的特性参数的偏移值的可能值范围。目标存储单元的特性参数值被转换成概率最高的二进制值。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 控制器 芯片 用于 操作 存储 单元 集合 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于操作存储单元集合的方法，该存储单元集合包含多个存储单元，存储单元集合中的各个存储单元存储由特性参数的预设的值范围划界的至少一个可能的二进制值，其中，特性参数的值范围随时间偏移，该方法包括：读出目标存储单元的特性参数的偏移值；读出存储单元集合中的各个存储单元的特性参数的偏移值；从存储单元集合中的各个存储单元的特性参数的偏移值产生用于可能的二进制值中的每一个的特性参数的概率分布函数；对于可能的二进制值中的每一个，确定目标存储单元的特性参数的偏移值处于其概率分布函数中的概率；和将目标存储单元的特性参数的偏移值转换成概率最高的二进制值。
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