[发明专利]测距装置有效
申请号: | 200810002278.7 | 申请日: | 2004-02-16 |
公开(公告)号: | CN101216302A | 公开(公告)日: | 2008-07-09 |
发明(设计)人: | 野中修;小林芳明 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | G01C3/00 | 分类号: | G01C3/00;G01C3/08;G02B7/28;G03B13/20 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陈英俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种通用性高、廉价、高精度的测距装置。该测距装置具有:光位置检测单元,当入射投射到被摄物的光的反射信号光和背景光时,输出与该入射位置对应的一对光电流信号;积分电路,对从上述光位置检测单元输出的光电流信号进行积分;运算单元,计算由上述积分电路对上述一对光电流信号之和进行积分的积分值和由上述积分电路只对上述一对光电流信号中的一方进行积分的积分值之比值;当上述一对光电流信号之和的积分结果大于指定量时,上述运算单元计算上述比值。 | ||
搜索关键词: | 测距 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测距装置,其特征在于,具有:光位置检测单元,当入射投射到被摄物的光的反射信号光和背景光时,输出与该入射位置对应的一对光电流信号;积分电路,对从上述光位置检测单元输出的光电流信号进行积分;运算单元,计算由上述积分电路对上述一对光电流信号之和进行积分的积分值和由上述积分电路只对上述一对光电流信号中的一方进行积分的积分值之比值;当上述一对光电流信号之和的积分结果大于指定量时,上述运算单元计算上述比值。
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