[发明专利]半导体封装结构及其制造方法有效
申请号: | 200810003933.0 | 申请日: | 2008-01-18 |
公开(公告)号: | CN101488482A | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
发明(设计)人: | 黄祥铭;刘安鸿;李宜璋;蔡豪殷;何淑静 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈 亮 |
地址: | 台湾省新竹科学*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明为一种半导体封装结构及其制造方法,该半导体封装结构包含一芯片、一导电部及一缓冲层。该半导体封装结构利用该导电部与一电路板电性连接,而该缓冲层至少局部包覆于该导电部,并填充于修复过程所产生的激光窗中。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种半导体封装结构,包含:一芯片,具有至少一衬垫;一导电部,形成于该芯片上,与该至少一衬垫电性连接,使该半导体封装结构藉由该导电部与该一电路板电性连接;以及一缓冲层,形成于该芯片的一主动面上,且至少局部包覆于该导电部。
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