[发明专利]用以保护一内部集成电路的半导体结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200810005158.2 申请日: 2008-01-23
公开(公告)号: CN101221952A 公开(公告)日: 2008-07-16
发明(设计)人: 黄志丰 申请(专利权)人: 崇贸科技股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/60;H01L21/82
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陈亮
地址: 台湾省台北县新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体结构及其制造方法,用以保护一内部集成电路,其半导体结构包括:一基板;多个第一掺杂区形成在基板中且位于一N型阱之内;多个第二掺杂区形成在基板中且位于一P型阱之内;一N型区形成在基板中且包围住N型阱与P型阱;一焊垫形成在基板之上且电性连接于至少一第一掺杂区;以及一第一接地端和一第二接地端分别位于与N型区的外侧和内侧相对应处。并且第二掺杂区与第一掺杂区分隔,而在N型区内的第一和第二掺杂区与基板藉由N型区分隔。此外第二接地端电性连接于至少一第二掺杂区。
搜索关键词: 用以 保护 内部 集成电路 半导体 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体结构,用以保护一内部集成电路,其特征在于,包括:一基板;多个第一掺杂区,形成在该基板中且实质上位于一N型阱之内;多个第二掺杂区,形成在该基板中且位于一P型阱之内,该些第二掺杂区与该些第一掺杂区分隔;一N型区,形成在基板中且包围住该N型阱及该P型阱,其中在该N型区内的该些第一及该些第二掺杂区与该基板藉由该N型区分隔;一焊垫,形成在该基板之上且电性连接于至少一该些第一掺杂区;以及一第一接地端及一第二接地端,分别位于与该N型区的外侧及内侧相对应处,且该第二接地端电性连接于至少一该些第二掺杂区。
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