[发明专利]用以保护一内部集成电路的半导体结构及其制造方法有效
申请号: | 200810005158.2 | 申请日: | 2008-01-23 |
公开(公告)号: | CN101221952A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 黄志丰 | 申请(专利权)人: | 崇贸科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/60;H01L21/82 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 台湾省台北县新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体结构及其制造方法,用以保护一内部集成电路,其半导体结构包括:一基板;多个第一掺杂区形成在基板中且位于一N型阱之内;多个第二掺杂区形成在基板中且位于一P型阱之内;一N型区形成在基板中且包围住N型阱与P型阱;一焊垫形成在基板之上且电性连接于至少一第一掺杂区;以及一第一接地端和一第二接地端分别位于与N型区的外侧和内侧相对应处。并且第二掺杂区与第一掺杂区分隔,而在N型区内的第一和第二掺杂区与基板藉由N型区分隔。此外第二接地端电性连接于至少一第二掺杂区。 | ||
搜索关键词: | 用以 保护 内部 集成电路 半导体 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体结构,用以保护一内部集成电路,其特征在于,包括:一基板;多个第一掺杂区,形成在该基板中且实质上位于一N型阱之内;多个第二掺杂区,形成在该基板中且位于一P型阱之内,该些第二掺杂区与该些第一掺杂区分隔;一N型区,形成在基板中且包围住该N型阱及该P型阱,其中在该N型区内的该些第一及该些第二掺杂区与该基板藉由该N型区分隔;一焊垫,形成在该基板之上且电性连接于至少一该些第一掺杂区;以及一第一接地端及一第二接地端,分别位于与该N型区的外侧及内侧相对应处,且该第二接地端电性连接于至少一该些第二掺杂区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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