[发明专利]应用于连续性侧向长晶技术的掩膜以及激光结晶方法有效
申请号: | 200810005717.X | 申请日: | 2008-02-03 |
公开(公告)号: | CN101221902A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 孙铭伟 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/268;H01L21/336;H01L21/77;H01L21/84;B23K26/06;G03F1/14 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种应用于连续性侧向长晶技术的掩膜以及激光结晶方法。掩膜包含第一透光单元以及第二透光单元。第一透光单元具有多个圆形透光区域。第二透光单元设置于第一透光单元侧边。第二透光单元具有多个多边形遮光区域。多边形遮光区域与第一透光单元的圆形透光区域一对一对应设置,且每一多边形遮光区域的对角线长度小于每一圆形透光区域的直径。方法步骤包含使用激光透过上述掩膜于基板上产生具有第二结晶单元及与第一透光单元对应的第一结晶单元、移动掩膜使第一透光单元移动至与相邻的第二结晶单元对应、以及使用激光透过掩膜于基板上产生第二结晶区域。 | ||
搜索关键词: | 应用于 连续性 侧向 技术 以及 激光 结晶 方法 | ||
【主权项】:
1.一种应用于连续性侧向长晶技术的掩膜,其特征在于,所述掩膜包含:第一透光单元,具有多个圆形透光区域;以及第二透光单元,设置于所述第一透光单元侧边,所述第二透光单元具有多个多边形遮光区域,所述这些多边形遮光区域与所述第一透光单元的所述这些圆形透光区域一对一对应设置,且每一多边形遮光区域的对角线长度小于每一圆形透光区域的直径。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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