[发明专利]双通道检测物理层/介质访问控制层状态的装置及方法有效
| 申请号： | 200810007748.9 | 申请日： | 2008-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN101247412A | 公开（公告）日： | 2008-08-20 |
| 发明（设计）人： | 高胜宏;尹红彬;余加兵 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L29/08 | 分类号： | H04L29/08;H04L29/10 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙洪;霍育栋 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双通道备份检测物理层/介质访问控制层工作状态的系统、装置及方法，本发明将物理层器件通过例如MDC/MDIO的总线与所述控制器直接相连，作为物理层器件通过介质访问控制层器件利用SPI总线间接连接到控制器的备用辅助总线通道的方式，实现了所述系统中控制器对物理层器件和/或介质访问控制层器件的自动诊断，能够快速定位故障。该系统中的控制器在设备异常时，通过该新增加的辅助总线通道直接读取物理层器件的状态，进一步的也可以直接读取介质访问控制层器件的状态。 | ||
| 搜索关键词： | 双通道 检测 物理层 介质 访问 控制 状态 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种双通道备份检测物理层/介质访问控制层工作状态的控制器，其特征在于，包括信号连接的控制模块、MDC/MDIO总线时序生成模块、总线检测模块、SPI总线时序生成模块，其中，控制模块通过所述MDC/MDIO总线时序生成模块生成的MDC/MDIO总线时序命令直接控制MDC/MDIO总线上的物理层器件和/或介质访问控制层器件，或者通过所述SPI总线时序生成模块生成的SPI总线时序命令间接由介质访问控制层器件控制与之通过MDC/MDIO总线相连的物理层器件；总线检测模块，检测MDC/MDIO总线和SPI总线获取物理层器件和/或介质访问控制层器件的状态返回值，该返回值送至控制模块，由所述控制模块对所述物理层器件和/或介质访问控制层器件的返回值进行对比判断所述物理层器件和/或介质访问控制层器件是否正常。
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