[发明专利]一种评估绝缘电阻劣化失效的方法、装置和系统无效
申请号: | 200810007997.8 | 申请日: | 2008-02-22 |
公开(公告)号: | CN101470146A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
发明(设计)人: | 徐焰 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R31/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 蒋贤起;逯长明 |
地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种评估绝缘电阻劣化失效的方法,包括步骤:在相邻导体的一个导体两端施加恒流源;如果在预设的时间段内,所述恒流源显示的数值出现过显著变化,则指示所述相邻导体间出现绝缘电阻劣化失效。还提供了一种评估绝缘电阻劣化失效的装置和一种评估绝缘电阻劣化失效的系统,利用本发明实施例,通过测量相邻导体中其中一根导体的电阻,如果所述电阻大于预设电阻值,则所述相邻导体间的绝缘电阻劣化;否则,所述相邻导体间的绝缘电阻正常。可以实现通过测量漏电流对于恒流源产生的测试电流的影响,来间接反映出漏电流的大小,进而可以判断出表面绝缘电阻是否失效。 | ||
搜索关键词: | 一种 评估 绝缘 电阻 失效 方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
1、一种评估绝缘电阻劣化失效的方法,其特征在于,包括步骤:在相邻导体的一个导体两端施加恒流源;如果在预设的时间段内,所述恒流源显示的数值出现过显著变化,则指示所述相邻导体间出现绝缘电阻劣化失效。
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