[发明专利]用于测量20MeV能区中子注量率的238U裂变电离室

摘要

本发明公开了一种用于测量20MeV能区中子注量率的²³⁸U裂变电离室，该装置呈柱状，包括带有进气口(2)和出气口(3)的外壳(1)、电镀有²³⁸U样品(8)的底衬(5)、收集极(6)，底衬(5)和收集极(6)通过支柱(7)固定在外壳(1)内，且底衬(5)与外壳(1)连接作为阴极，收集极(6)作为阳极，收集极(6)收集的信号通过信号输出插头(9)输送，所述的底衬(5)为不锈钢材质。该发明提供一种结构简单、成本低廉、可根据测量的需要方便的进行调解的用于测量20MeV能区中子注量率的²³⁸U裂变电离室。

主权项

1.一种用于测量20MeV能区中子注量率的238U裂变电离室，该装置呈柱状，包括带有进气口(2)和出气口(3)的外壳(1)、电镀有238U样品(8)的底衬(5)、收集极(6)，底衬(5)和收集极(6)通过支柱(7)固定在外壳(1)内，且底衬(5)与外壳(1)连接作为阴极，收集极(6)作为阳极，收集极(6)收集的信号通过信号输出插头(9)输送，其特征在于所述的底衬(5)为不锈钢材质。