[发明专利]一种性能统计原始数据的测试系统及测试方法无效

专利信息
申请号: 200810008370.4 申请日: 2008-03-04
公开(公告)号: CN101242617A 公开(公告)日: 2008-08-13
发明(设计)人: 闫飞宇;杨良华 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04Q7/34 分类号: H04Q7/34;H04L12/24
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 龙洪;霍育栋
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种性能统计原始数据的测试系统及测试方法,属于基站网管系统。本发明系统,包括依次连接的测试用例加载模块、功能控制参数处理模块、测量方式处理模块以及测量对象范围处理模块,测试用例加载模块与网管系统的操作维护中心OMC业务流程处理块相连,测量对象范围处理模块与网管系统的网元NE业务流程处理块相连。本发明既可以完成自由定制多原始数据测试用例以及自由选择原始数据测试范围,又实现了测试数据的自动核查周期核查,并极大地提高了原始数据测试工作的效率。
搜索关键词: 一种 性能 统计 原始数据 测试 系统 方法
【主权项】:
1、一种性能统计原始数据的测试系统,其特征在于,该系统包括依次连接的测试用例加载模块、功能控制参数处理模块、测量方式处理模块以及测量对象范围处理模块,测试用例加载模块与网管系统的操作维护中心OMC业务流程处理块相连,测量对象范围处理模块与网管系统的网元NE业务流程处理块相连,其中:测试用例加载模块,用于自动加载来自网管系统的待测原始指标数据;功能控制参数处理模块,用于读取测试用例加载模块中的待测原始指标数据及其功能控制参数信息,并对全部或者部分功能控制参数进行添加、修改、删除操作后,将待测原始指标数据及其当前功能控制参数信息发送到测量方式处理模块;测量方式处理模块,根据收到的待测原始指标数据的类型参数确定测量方式参数值,并将其所确定的测量方式参数、其所收到的待测原始指标数据及其它功能控制参数信息发送到测量对象范围处理模块;测量对象范围处理模块,根据收到的待测原始指标数据的功能控制参数信息将待测原始指标数据发送到网管系统的网元进行数据测量处理。
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