[发明专利]发光测定装置无效

专利信息
申请号: 200810009897.9 申请日: 2008-02-27
公开(公告)号: CN101256146A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 田上英嗣;石泽雅人;铃木洋一郎 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N21/76 分类号: G01N21/76;G01N21/01
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 张敬强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种发光测定装置,能够获得更多的直接光,尽可能地减少直接光因与存放发光体的容器、或用于聚光的构造物及其它检测系统部件的支撑构造物作用而引起的光量衰减,可检测来自样品的微弱发光。在使遮蔽向检测器的光的构造体外滑的同时,使存放发光体的容器内滑而移动到检测器的正下方,通过使发光体和检测器最接近,从而增加直接光,减少在检测系统部件的支撑构造物中的反射。
搜索关键词: 发光 测定 装置
【主权项】:
1.一种发光测定装置,具备:存放含有发光体的样品的容器;以及利用与容器相对的检测器检测来自该发光体的光并将光转换成电信号的检测部,其特征在于,将保持上述容器的容器保持部件和保持上述检测器的检测器保持部件作成分体,具备使该容器保持部或该检测器保持部相对移动的机构,上述容器的与上述检测器相对的面开口。
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