[发明专利]平板裂缝天线裂缝精密测量方法

摘要

本发明涉及一种光学测量设备，特别是一种平板裂缝天线裂缝精密测量方法，它至少包括图像提取装置，对图像提取装置提供的信息进行处理的计算单元，其特征是：A.初始化：1)建立数字图像象素与实际尺寸的对应关系；2)提取平板裂缝天线的图像信息；3)提取图像裂缝边缘信息；4)进行边缘点亚像素处理；5)存贮亚像素边缘点；B.实时检测：1)定时提取平板裂缝天线的图像信息；2)提取图像信息中的裂缝边缘信息；3)进行亚像素处理；4)与A中第4)条存贮相对应边缘点进行比较；5)当小于变化量时，重复B中的第1)条；6)当大于变化量时，给出提示信息。它能够在天线工作状态下测量，不会影响使用，测量精度高、成本低。

主权项

1、平板裂缝天线裂缝精密测量方法，它至少包括图像提取装置，对图像提取装置提供的信息进行处理的计算单元，其特征是：A、初始化1)建立数字图像象素与实际尺寸的对应关系，确定图像提取装置每一个象素所表示的实际物理尺寸；2)计算单元通过图像提取装置提取平板裂缝天线的图像信息；3)对图像信息中的裂缝边缘信息进行提取；4)对图像信息的边缘点进行亚像素处理；5)对亚像素处理的边缘点进行存贮；B、实时检测1)计算单元定时通过图像提取装置提取平板裂缝天线的图像信息；2)对图像信息中的裂缝边缘信息进行提取；3)对图像信息的边缘点进行亚像素处理；4)与初始化A中第4)条存贮的相对应边缘点进行比较；5)当小于变化量时，重复进行实时检测B中的第1)条；6)当大于变化量时，给出提示信息。