[发明专利]平板裂缝天线缝制造精度对电性能影响的预测方法无效

专利信息
申请号: 200810017898.8 申请日: 2008-04-08
公开(公告)号: CN101252224A 公开(公告)日: 2008-08-27
发明(设计)人: 段宝岩;周金柱;黄进;李华平;宋立伟;李鹏;保宏;刁玖胜;王伟 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01Q13/10 分类号: H01Q13/10;H01Q13/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 代理人: 韦全生
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种平板裂缝天线缝制造精度对电性能影响的预测方法,它属于天线技术领域,其目的是比较准确地预测平板裂缝天线缝制造精度对电性能指标的影响。该方法以工程中搜集的缝制造精度和对应的电性能指标数据为基础,通过数据的处理,转换为缝平均制造精度和电性能变化量的数据。然后,使用支持向量机建立电性能指标变化量与缝平均制造精度的模型。最终,推导出平板裂缝天线在考虑缝制造精度后的电性能指标预测模型。应用这个模型,可以准确地预测平板裂缝天线的缝制造精度对电性能的影响。本发明可用于平板裂缝天线的辅助设计或缝制造精度的选择使用中。
搜索关键词: 平板 裂缝 天线 缝制 精度 性能 影响 预测 方法
【主权项】:
1.一种平板裂缝天线缝制造精度对电性能影响的预测方法,其具体的实现步骤如下:(1)、搜集、整理平板裂缝天线各个辐射缝、耦合缝和激励缝的缝尺寸数据与相对应的电性能指标数据,并构建数据库;(2)、对搜集到的数据进行处理,获得平板裂缝天线的缝平均制造精度x与对应的电性能指标变化量Δy;其中缝平均制造精度x包括辐射缝的缝平均制造精度、耦合缝的缝平均制造精度、激励缝的缝平均制造精度;(3)、对(2)中得到的缝平均制造精度以及对应的电性能指标数据进行规一化预处理,并把处理后的数据样本分成训练数据样本和检验数据样本两部分;(4)、在(3)中数据处理完成的基础上,使用支持向量机算法对前面处理得到的训练数据样本进行建模,获得电性能指标变化量Δy与缝平均制造精度x的模型;然后使用检验数据样本验证模型的正确性;最后,根据所建立的电性能指标变化量的模型,推导出平板裂缝天线在考虑缝制造精度后的电性能指标预测模型;(5)、根据(4)中建立的电性能指标预测模型,指定平板裂缝天线的缝制造精度;然后使用预测模型预测缝制造精度对电性能指标的影响程度,使用这种预测方法,在保证天线的电性能指标满足要求的情况下,选择出合理的缝制造精度。
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