[发明专利]一种高低温环境下的五轴测试台无效
申请号: | 200810018221.6 | 申请日: | 2008-05-16 |
公开(公告)号: | CN101281090A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 姜明;姜斯亮;杨光雄;吕延军 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M19/00 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 | 代理人: | 罗笛 |
地址: | 710048*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种高低温环境下的五轴测试台,包括设置在机架上的水平的X-Y轴定位板,定位板上设置有方箱,在方箱中安装有Z轴装置,Z轴装置与方箱之间设置有Z轴调整和定位结构,在Z轴装置的上端面上设置有α轴的调整和定位结构,在α轴的调整和定位结构上设置有β轴的调整和定位结构;在机架上设置有工装。本发明的测试台,无论是支撑部件还是定位元件,全部都使用同一种材料制作。本发明的测试台结构简单,调整及操作方便,定位误差符合要求,测量精度高、制作成本低,完全满足了实验测量的需要。 | ||
搜索关键词: | 一种 低温 环境 测试 | ||
【主权项】:
1、一种高低温环境下的五轴测试台,其特征在于:包括机架(1),机架(1)上设置有水平的X-Y轴的定位板(2),定位板(2)上设置有方箱(3),在方箱(3)中安装有Z轴装置,Z轴装置与方箱(3)之间设置有Z轴的调整和定位结构,在Z轴装置的上端面上设置有α轴的调整和定位结构,在α轴调整和定位结构上设置有β轴调整和定位结构;在机架(1)上设置有工装(6)。
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